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ASCII-8BIT |
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项目类型: |
TG |
成果名称: |
激光等离子体参数的测量装置及其测量方法 |
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成果单位: |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
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检索用关键词: |
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专利状况: |
2 |
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专利申请号: |
98122870.4 |
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应用行业: |
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技术领域: |
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技术产品用途介绍: |
一种激光等离子体参数的测量装置及其测量方法。测量装置中激光等离子体的软X射线源的泵浦源是激光器,探测元件和单色扫描狭缝同时置放在带有自动同步控制装置的调整架上。激光器与软X射线源之间的分束镜将反射光束t射到外触发器上,同时触发存储示波器、探测元件以及自动同步控制装置同时进入工作状态。测量方法是光谱还原法,解谱方法具体有三个步骤,在数据存储器中有完整的程序包。具有结构紧凑、体积小、测量精度高和稳定的可靠性。
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产品性能: |
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市场前景及经济效益分析: |
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成果权属: |
9 |
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项目来源: |
9 |
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转化方式: |
8 |
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成果状态: |
9 |
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成果单位详细信息: |
查看成果单位详细信息 |
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